原位拉伸冷热台 JK-LS500采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃温度下材料的动态应力应变特性测试，可与显微分析、电学分析相结合。原位拉伸冷热...

JKZC-UTS150微型冷热腔是一种适配μTS拉伸台的产品，包含拉伸、压缩、三点弯模块。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-100~50℃ (高温以实际数...

探针热台JK-600S是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用电阻加热的方式，实现RT~600℃范围内精准控...

探针冷热台JK-600C是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~60...

半导体冷热台JK-120BPE、BPE100采用半导体冷热控制，配合循环水散热，实现从-25~120℃（选型）的控温。无需液氮等致冷剂，具有无噪声、无振动等特点...

半导体冷热台JK-120BCH采用半导体致冷，配合低温循环液，实现从-40到180℃（选型）的控温。

JK-150BPE型半导体冷热台又称帕尔贴冷热台，利用半导体的热-电效应制冷，配合循环水散热，在 -30~150℃的温度范围内进行控温，实现样品在开放式 / 气...

Instruments拉伸机冷热台拉伸机冷热台是一种安装在万能试验机上研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190...

光学热台JK-GH600S是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。

光学冷热台JK-GH600-190是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。

光学冷热台是一款针对研究样品变温光学性能测试而设计的产品，可表征样品光学性能随温度变化的特征。

-190~400℃纳米级控制精度探针电动控制结构紧凑 适用真空环境详细参数

探针冷热台是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或...

JK-600CH190P4D型外部调节探针冷热台

JKGX-190型光学测试冷热台采用液氮制冷和电热丝加热方式，可以在-190℃~600℃范围内进行温度和环境控制，搭配其他仪表进行电学、光学等测试。

JK-XRD原位冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~100...

冷热台是一种在扫描电子显微镜（SEM）标准样品台上（无需改造电镜内部），提供样品原位变温测试的电镜附件。通过外接法兰装置实现对冷热台上的样品进行控温，稳定后温控...

JK-SEM1900原位拉伸冷热台是在SEM(扫描电子显微镜)下的一款研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。

JK-CGLS190原位拉伸冷热台是一款研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~10...

JK-LSJ1900T拉伸机冷热台是一种安装在万能试验机上研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（...